UKXF-L1雙棱鏡光幹涉實驗儀

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產品名稱: UKXF-L1雙棱鏡光幹涉實驗儀

產品型號: UKXF-L1

產品展商: ghitest

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簡單介紹

產品簡介: 雙棱鏡可將一束相幹光的波前分成兩部分，形成分波麵幹涉，利用測量幹涉條紋間距(毫米量),求得光的波長(納米量。本儀器可供大專院校基礎物理實驗和設計性研究性物理實驗。

UKXF-L1雙棱鏡光幹涉實驗儀 的詳細介紹

產品簡介:
雙棱鏡可將一束相幹光的波前分成兩部分，形成分波麵幹涉，利用測量幹涉條紋間距(毫米量),求得光的波長(納米量。本儀器可供大專院校基礎物理實驗和設計性研究性物理實驗。
功能特點：
1.配有半導體激光 (650.0nm)單色光源，半導體激光經大幅度降低光強處理，用其作光源具有相幹性且不傷害眼睛的優點，可很方便調出圖像清晰幹涉條紋，也為鈉光幹涉條紋調節帶來方便，測量二種光的波長進行比較。
2.導軌和轉盤采用高強度鋁合金材料、燕尾槽結構、轉盤靈活、**生鏽、****、手感好。
3.帶有黑色擋光罩，可在白光及通風條件下做光學實驗。
實驗目的：
1.觀察雙棱鏡的幹涉現象。
2.測量激光器的波長以及鈉燈黃光的波長。
3.觀察其他光源的雙棱鏡光幹涉現象。
參數：
導軌：長80.0cm，分度值1mm；滑塊5隻，其中1個滑塊上帶轉動裝置
帶轉盤的狹縫：縫寬約0.04mm
測微目鏡和支架：測微目鏡量程0-8mm，分度值0.01mm
光源：半導體激光器，光波長650.0nm，已大幅度衰減光強。工作電壓直流3V

鈉光燈及電源（選配）