KDKLT-1B高頻光電導少子壽命測試儀/高頻光電導壽命測試儀（生產用）
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產品名稱: KDKLT-1B高頻光電導少子壽命測試儀/高頻光電導壽命測試儀（生產用）
產品型號: KDKLT-1B
產品展商: ghitest
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簡單介紹
τ:10～6000μs，ρ＞3Ω·cm ，配數字示波器
用於矽、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有一個測量平麵外，對樣塊體形*嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質汙染及缺陷存在的情況，是單晶質的重要檢測項目。
KDKLT-1B高頻光電導少子壽命測試儀/高頻光電導壽命測試儀（生產用）
的詳細介紹
產品簡介:
τ:10～6000μs，ρ＞3Ω·cm ，配數字示波器
用於矽、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有一個測量平麵外，對樣塊體形*嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質汙染及缺陷存在的情況，是單晶質的重要檢測項目。
設備組成
1.光脈衝發生裝置:
重複頻率>25次/s
脈 寬>60μｓ
光脈衝關斷時間＜1μｓ
紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量矽單晶）
脈衝電流：5A～20A
如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源
2.高頻源:
頻 率：30MHz低輸出阻抗
輸出功率>1W
放大器和檢波器:
頻率響應：2Hz～2MHz
3.配用示波器：
配用示波器：頻帶寬度不低於10MHz，Y軸增益及掃描速度均應連續可調。
測量範圍：
可測矽單晶的電阻率範圍：ρ≥0.1Ω·㎝（歐姆·厘米）
壽命值的測量範圍：5～6000μｓ（微秒）