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產品名稱: NIB-3195A型D/A測試儀_A/D測試儀
產品型號: NIB-3195A型
產品展商: ghitest
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簡單介紹
A/D D/A測試儀是參考美國GR1731測試係統的模式，采用模塊化結構，並繼承了中小規模數字集成電路測試係統的優點而開發出的小型線性IC測試儀。
測試原理相應的標準、行業標準及器件廠商的測試規範；
NIB-3195A型D/A測試儀_A/D測試儀
的詳細介紹
A/D測試儀產品簡介：
本測試儀可測試12位及以下A/D、D/A轉換器的靜態參數，可用於A/D、D/A的驗收測試及**應用測試。
A/D D/A測試儀是參考美國GR1731測試係統的模式，采用模塊化結構，並繼承了中小規模數字集成電路測試係統的優點而開發出的小型線性IC測試儀。
測試原理相應的標準、行業標準及器件廠商的測試規範；
A/D測試儀功能特點：
1.可測試直接型及複用型A/D、D/A
2.D/A轉換器可測試電壓型\電流型
3.可測試多通道A/D、D/A轉換器
4.可測試不同碼製的轉換器，二進製碼、BCD碼、2421碼、格雷碼
5.符號-幅值碼、1的補碼、2的補碼
6.測試方法靈活、麵
7.線形度、微分線形度測試提供正常碼、碼、自定義**碼測試
8.數學和、測試和測試
9.多5種電源條件下的測試
10.測量電壓、施加電壓精度高，滿足12位A/D、D/A器件的測試要求
11.3組具有測流能力的程控電源，16個可編程數字I/O通道
12.基於Windows的控製軟件，窗口填表式編程，編程方法易於掌握，編程效率高
13.係統自動校準，測試精度
14.配有AVP、OVP適配器，方便計量驗證
A/D測試儀主要參數：
電源電流：(+Icc1、-Icc1、Icc2)
參考電壓：(Vref)
失調電壓：(Zero)
增益誤差：(Gain)
線性誤差：(Linearity)
線性誤差：(Differential)
靈 敏 度：(dFSV1+、dFSV1-、dFSV2+)
管腳參數：(Iil、Iih、Voh、Vol)
測量量程 精度
±（5.0V～10.2V） ±（0.025%Rdg＋472uV）
±（2.5V～5.0V） ±（0.025%Rdg＋236uV）
±（<2.5V） ±（0.025%Rdg＋196uV）
測流指標 精度
（2.5mA～5.1mA）FSR ±（0.05%Rdg＋236nA）
（1.25mA～2.5mA）FSR ±（0.05%Rdg＋118 nA）
（<1.25mA）FSR ±（0.05%Rdg＋98 nA）